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晶圆外观缺陷检测设备

AOI-800AW

产品参数
编号:
AOI-800AW

主要特点:

1、搭载高精度运动控制平台和高分辨率光学系统,利用光学成像技术和计算机图像处理。算法来高效、精确地检测多类型多结构表面缺陷;

2、具有对焦速度快、检测精度高、检测稳定等特点;

3、设备模块化设计,实现不同客户不同尺寸产品的快速切换;

4、设备兼容性高,支持裸晶圆,切割后带钢圈晶圆及扩晶后子母环等不同上料方式。

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