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有图形晶圆表面缺陷检测设备

AOI-AW300

产品参数
编号:
AOI-AW300

主要特点:

1、高速度、高精度晶圆移动平台,搭配高速相机,实现高通量晶圆缺陷检测;

2、多光路光学成像系统,支持明场/暗场同时进行检测;

3、兼容性高,配置灵活,高效稳定。

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