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光波导片外观缺陷检测设备

AOI-1800AG

产品参数
编号:
AOI-1800AG

主要特点:

1、设备搭载组合光源和高分辨率光学系统,利用光学成像技术,结合传统图像处理算法深度学习算法来高效、精确地检测各类透明材料上下表面缺陷;

2、通用性强,兼容华夫盘和扩晶环上下料;

3、多顶针设计,灵活适配不同尺寸规格的产品检测;

4、四通道检测工位,设备自动化程度高,可有效替代人工检测,提升生产效率和产品质量。

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